DIC(Digital Image Correlation)技術是由美國南卡大學所開發，用來量測物體全域表面形變的系統。

此技術乃利用物體表面的特徵，做為表面位移判斷與比對的標的。

其結合CCD影像捕捉與DIC演算法，使得3D表面形變的量測能在最快的時間內完成，並得到最佳

的解析度。任何表面細微的位移，均能在數據與影像上呈現出來。藉由後處理，也可了解單點或

表面的位移與應變。